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FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG

产品规格
产品特点

      2015年,ASD公司(现隶属于荷兰帕纳科)推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG,将光谱分辨率提升至6nm,这进一步提高了下一代高光谱成像传感器的分析精度,是地物光谱仪器的一次重要变革。
FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG
更高分辨率的高光谱仪器可以协助用户提高遥感分类应用的精度,识别更多之前无法从高光谱图像中获取的点像元信息。为了充分发挥下一代传感器的潜能,那么基于地面测量的光谱仪器可以对图像做准确的正射校准,如果分辨率达不到高光谱成像的要求,那么数据在后处理过程中会因插值而丢失重要的光谱信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 简称FieldSpec 4 HR NG) 地物光谱仪大大提升了光谱分辨率。除了优越的光谱分辨率,像所有ASD地物光谱仪一样,FieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR检测器,在350nm到2500nm的全光谱范围进行1875波段(编码通道)的检测,从而提供更小的采样间隔(采样带宽),确保可以检出样品更细微的光谱特征。

优点:

完全为野外遥感设计

在太阳作为光源的情况下,同时拥有更高光谱分辨率和更低等效辐射噪声

光纤与主机严格固定,一体定标,可溯源到美国NIST

外形美观,坚固耐用,人体工学设计,使用体验舒适方便

海量应用文献,数据库完备,无缝兼容ENVI、TSG等更多的第三方工具软件

性能指标:
产品型号
FieldSpec 4 HR NG
波长范围
350-2500 nm
光谱分辨率
3 nm @ 700 nm
6 nm  @ 1400/2100 nm
等效噪声辐射
VNIR  1.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1  8.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2  8.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
采样间隔
1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm
杂散光
VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01%
波长重复性
0.1 nm
波长准确度
0.5 nm
最大辐射
VNIR 2 倍太阳光, SWIR 10 倍太阳光
辐射校准精度
< 3.5%@400 nm, < 3%@700 nm, < 3%@2200 nm
数据输出通道数
2151
检测器阵列通道数
512@350-1000 nm, 520*2@1001-1800 nm, 520*2@1801-2500 nm
检测器
VNIR 检测器 (350-1000 nm): 512 像元硅阵列传感器
SWIR 1 
检测器 (1001-1800 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷
SWIR 2 
检测器 (1801-2500 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷
扫描方式
固定及运动光栅组合分光
输入
1.5 m 光纤(25° 视场). 可选前置镜头改变视场角
尺寸
12.7*36.8*29.2 cm
重量
5.44 kg
电脑
Windows®7  64位笔记本(可选支持win8 / win10笔记本、平板电脑及三防手持数据终端电脑)
通讯
有线:10 / 100快速以太网接口,无线:802.11g 无线网卡
软件
RS3TM光谱数据收集软件,与ENVIViewSpecTM Pro数据后处理软件无缝兼容,可选Indico@Pro
便携性
人体工程野外背包(内含防雨披及样品舱),安全运输箱
可选配件
植物探头、照明器、积分球、GPS等(详见通用配件)

制造商:英国ASD

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